機械設(shè)計能力
電子設(shè)計能力
軟件開發(fā)能力
CCD應用
檢測缺陷類型： 主要有黑白點、黑白屏、屏暗、水紋、漏光、點線類問題等。
功能特點：對點缺陷可以穩(wěn)定檢測到0.025um以上的1/3級子像素缺陷；對Mura缺陷可以穩(wěn)定檢測0.08mm*0.08mm、灰度差在5％以上的缺陷；采用高分辨率工業(yè)相機，穩(wěn)定檢驗最小缺陷尺寸20μm，最高可檢測8μm的缺陷。
部分檢測缺陷種類
機械設(shè)計能力
電子設(shè)計能力
軟件開發(fā)能力
CCD應用
檢測缺陷類型： 主要有黑白點、黑白屏、屏暗、水紋、漏光、點線類問題等。
功能特點：對點缺陷可以穩(wěn)定檢測到0.025um以上的1/3級子像素缺陷；對Mura缺陷可以穩(wěn)定檢測0.08mm*0.08mm、灰度差在5％以上的缺陷；采用高分辨率工業(yè)相機，穩(wěn)定檢驗最小缺陷尺寸20μm，最高可檢測8μm的缺陷。
部分檢測缺陷種類